Ora che il mercato ha capito i benefici prestazionali del GaN e risolto i problemi di controllo degli HEMT GaN, è giunto il momento di dissipare le residue preoccupazioni dei progettisti legate a prezzi, disponibilità e affidabilità.
Fra gli esempi che dimostrano come i dispositivi di potenza al nitruro di gallio (GaN) consentano di realizzare trasformatori di potenza più compatti ed efficienti spiccano i caricatori per bici elettriche che, se realizzati con il GaN, offrono una riduzione delle dimensioni nell’ordine del 75% e possono quindi essere portati comodamente nello zaino, così come i caricatori USB-PD per laptop, grandi circa un terzo rispetto agli equivalenti basati su silicio. Oppure pensiamo ai trasformatori c.c./c.c. per datacenter: dimensioni dimezzate rispetto ai modelli al silicio ed efficienza molto superiore.
Il GaN offre vantaggi applicativi per molte ragioni, quali l’assenza di correnti di recupero inverse che favorisce architetture più semplici. Altri vantaggi sono: la capacità del GaN di operare a una frequenza superiore al silicio, consentendo quindi l’utilizzo di passivi più piccoli; la sua on-resistance specifica notevolmente più bassa, che rende il dispositivo GaN molto più compatto; e la cifra di merito (Ron x Qg) 10 volte maggiore che si traduce in efficienze molto più elevate ad elevate frequenze.
Di conseguenza, assisteremo a una continua proliferazione di dispositivi GaN in tutti i settori applicativi, dal largo consumo all’industria, dall’industria automobilistica alle energie rinnovabili. In parole semplici, il GaN può essere adottato in qualsiasi sistema di conversione di potenza per aumentare le prestazioni, ridurre le dimensioni, aumentare l’efficienza e abbassare i costi.
GaN: il caso esemplare
Il mercato del GaN è ormai in forte crescita, avendo dissipato gran parte delle preoccupazioni iniziali. Eppure, qualcuno nutre ancora dubbi che frenano l’adozione di massa del GaN, in particolare su prezzi e disponibilità in grandi volumi, oltre alle preoccupazioni per le “seconde fonti”, cioè fornitori alternativi.
Il mercato degli smartphone è l’esempio più eclatante. Con vendite che superano il miliardo di pezzi all’anno, le aziende produttrici sono estremamente interessate a introdurre il GaN nei loro apparecchi. Per raggiungere questo obiettivo ambito, devono verificarsi quattro condizioni. Innanzitutto, ci deve essere un chiaro vantaggio applicativo. Inoltre, il dispositivo GaN deve replicare le caratteristiche di bassissima dispersione del gate del silicio. I dispositivi devono poi essere disponibili in grandissimi volumi, non solo per sostenere le vendite annue di un miliardo di smartphone, ma per crescere velocemente e tenere il passo di 6-9 mesi nella frequenza di lancio di nuovi modelli. Infine, i dispositivi GaN devono avere prezzi competitivi.
Un vantaggio evidente e determinante giunge dal primo GaN bidirezionale commercializzato, Innoscience VgaN™. Per bloccare la corrente in entrambe le direzioni, l’unità di protezione contro le sovratensioni in un sistema di gestione della batteria richiede due MOSFET al silicio accoppiati (back-to-back); questi possono essere sostituiti da un unico HEMT VgaN (Figura 1), ottenendo una soluzione che è il 50% più piccola e al tempo stesso più efficiente.
Figura 1 – Due MOSFET Si accoppiati possono essere sostituiti da un VgaN.
Una delle innovazioni di Innoscience riguarda il problema della specifica per la corrente di dispersione del gate. Di fatto, l’ossido sotto il gate di un tipico dispositivo al silicio blocca le dispersioni del gate. Tuttavia, questo strato di ossido è assente nel GaN e il gate può essere modellato come un’architettura a due diodi accoppiati (Figura 2).
Figura 2 – L’ottimizzazione ha ridotto la caratteristica di dispersione a meno di 3μA.
Innoscience ha ottimizzato l’epitassia, l’architettura del dispositivo e la lavorazione, ottenendo una riduzione di quasi dieci volte della caratteristica di dispersione, inferiore a 3µA a 85 °C per l’intero ciclo di vita del dispositivo, valore accettabile per i produttori di smartphone e che garantisce l’idoneità dei transistor HEMT VGaN per la commutazione del carico all’interno degli apparecchi.
Questa innovazione implica che i principali fornitori di GaN debbano essere produttori di dispositivi integrati (IDM), perché le aziende senza fabbriche non hanno la capacità di ottimizzare l’epitassia, l’architettura e la lavorazione assieme.
Se analizziamo prezzi e disponibilità, è subito evidente perché il GaN non è ancora riuscito ad affermarsi nel mercato degli smartphone, nonostante la crescente richiesta da parte di clienti e produttori. Supponiamo una penetrazione del 10% nel mercato da un miliardo di telefoni venduti nel 2022. Questo significherebbe 100 milioni di dispositivi GaN all’anno. Questo volume richiederebbe circa 3 000 wafer da 8 pollici o 5 400 wafer da 6 pollici ogni mese. La capacità produttiva mondiale di GaN (senza considerare Innoscience) è attualmente di 16 000 wafer da 6 pollici al mese (pari a circa 9 000 wafer da 8 pollici), secondo i dati della società di studi di mercato Yole Group. Pertanto, quest’unica applicazione assorbirebbe il 33% della capacità mondiale!
Le cose cambiano con l’arrivo sul mercato di Innoscience, che attualmente è il più grande IDM focalizzato al 100% sul GaN. Inoltre, utilizzando wafer da 8 pollici, l’azienda può fornire GaN a costi contenuti in volumi estremamente elevati (rispetto al wafer da 6 pollici, con il wafer da 8 pollici si possono ottenere 1,8 volte più dispositivi). Entro il 2025, Innoscience produrrà 70 000 wafer da 8 pollici al mese, superando la capacità complessiva di tutti gli altri produttori.
Il tema dell’affidabilità
L’affidabilità è tutto: multinazionali come Oppo non utilizzerebbero mai il GaN nei loro telefoni se avessero dubbi sulla sua affidabilità.
I test secondo le norme JEDEC e i test di invecchiamento accelerato mostrano che i tassi di guasto dei dispositivi Innoscience pari a 10 ppm (parti per milione) per la modalità di accelerazione del gate superano i 20 anni, mentre per la modalità di accelerazione del drain il valore è superiore ai 10 000 anni.
Figura 3 – I testi di invecchiamento accelerato dimostrano l’affidabilità del VGaN in bassa tensione.
Un altro fattore è la robustezza in valanga, una caratteristica vitale dei dispositivi di potenza MOS al silicio, tipicamente misurata con un test UIS (Interruttore Induttivo Sbloccato).
Accendendo il dispositivo di test, l’induttore viene caricato in modo lineare. Al raggiungimento della corrente di drain richiesta, lo spegnimento del dispositivo di test fa sì che l’induttore dissipi l’energia immagazzinata, portandosi in una tensione di rottura.
La capacità di valanga del dispositivo di test permette la dissipazione della corrente dell’induttore e, quindi, limita qualsiasi ulteriore aumento di tensione. Il dispositivo di test resta in rottura fino alla completa dissipazione dell’energia.
I risultati di questo test UIS possono essere tradotti in “tempo in valanga” ed “energia in valanga” che il dispositivo è in grado di sopportare. Se il dispositivo di potenza non ha una capacità di valanga sufficiente, dovrà avere una tensione di rottura molto più alta per scaricare completamente l’energia dell’induttore.
Questo è esattamente il caso dei dispositivi InnoGaN, dove il tasso di commutazione induttiva viene ottenuto con un coefficiente BVdss elevato. I dispositivi GaN in bassa tensione di Innoscience offrono una tensione di rottura più che doppia rispetto al valore nominale del dispositivo, assicurando l’assorbimento di picchi di tensione in sicurezza e il superamento di questi test critici.
Il mercato dei datacenter
Naturalmente il mercato del GaN va ben oltre i dispositivi mobili smart. Prendiamo ad esempio i datacenter, un mercato enorme e in crescita con una grande “fame” di potenza. In questo ambito, l’efficienza è la prima priorità, perché ogni 0,1% di incremento dell’efficienza si traduce in un notevole risparmio di costi. Anche le dimensioni sono cruciali, perché sistemi di conversione di potenza più compatti liberano spazio per le unità di calcolo; infine, l’ampia disponibilità di prodotti e i prezzi bassi restano essenziali.
Partendo da c.a./c.c., la figura 4 illustra le fasi di trasformazione di potenza all’interno di un datacenter. Un normale progetto PFC e LLC sul lato primario utilizza tipicamente dispositivi a 650 V, mentre sul lato in bassa tensione si trovano molti componenti da 100 V e 30 V avvicinandosi ai dispositivi del punto di carico.
Si può arrivare facilmente a circa 80 transistor di potenza in bassa tensione per ogni implementazione, che devono essere tutti forniti in grandi quantità e al giusto prezzo.
Figura 4 – Esiste una forte domanda di GaN per i datacenter ad alto consumo energetic
Utilizzando quattro HEMT GaN INN100W032A da 3,2 mΩ e 100 V di Innoscience in un progetto LLC full-bridge da 600 W, si ottiene un trasformatore che non solo misura un quarto rispetto all’equivalente soluzione al silicio, ma che è anche lo 0,6% più efficiente, con un risparmio di quasi il 10% in termini di consumi energetici e, quindi, una riduzione di costi e di emissioni di CO2.
Soluzione integrata
Ulteriori riduzioni delle dimensioni sono possibili utilizzando una soluzione integrata. La figura 5 illustra un intero circuito half-bridge. Il dispositivo SolidGaN ISG3201 appena introdotto da Innoscience integra due HEMT GaN in configurazione half-bridge, driver e condensatore bootstrap in un unico package LGA che misura solo 5 x 6,5 x 1,1 mm, riducendo quindi l’ingombro di un ulteriore 20%.
Inoltre, poiché le connessioni fra gli elementi dei circuiti sono embedded nel package, la soluzione integrata offre prestazioni ancora superiori. Se consideriamo lo stesso trasformatore c.c./c.c. da 600 W 48/12 V nella stessa applicazione datacenter, l’uso di ISG3201 aumenta la densità di potenza, raggiungendo 1 000 W
in un modulo di pari dimensioni con un’efficienza elevata del 98,26%.
Ora i progettisti possono scegliere fra una soluzione discreta (ad esempio INN100W032A), che offre maggiore flessibilità, e una soluzione integrata (ad esempio ISG3201), più facile da montare e usare.
Figura 5 – Le soluzioni SolidGaN integrate offrono benefici in termini di dimensioni, prestazioni e facilità d’uso.
Ci stiamo rivolgendo anche al settore dell’alta tensione con i transitori HEMT InnoGan da 650 V che vanno da 30 mΩ RDS (on) a 2.2 Ω. Anche qui, i progettisti potrebbero nutrire preoccupazioni per guasti in valanga dovuti ad alti picchi di tensione. Ma, come detto in precedenza, se da un lato i dispositivi GaN (a differenza del silicio) non hanno un coefficiente di valanga, dall’altro evitano guasti in valanga grazie a una tensione di rottura molto superiore rispetto alla tensione nominale specificata. Le schede tecniche per questi dispositivi da 650 V indicano che i picchi transitori di tensione massima da drenaggio a sorgente che questi dispositivi possono sopportare per impulsi non ripetitivi sotto 200 µs sono di 800 V, ampiamente al di sopra del valore nominale massimo. In caso di impulsi ripetuti con una durata inferiore a 100 ns, la tensione transitoria massima che i componenti possono reggere è 750 V sia a temperatura ambiente sia a 125 °C, quindi ancora ben oltre il valore nominale di 650 V. I dati di questi test confermano un’elevata affidabilità di utilizzo.
Doppia fonte di approvvigionamento
I clienti sono molto preoccupati di dover fare affidamento su un unico fornitore. Stanno però emergendo molteplici fonti di approvvigionamento per i componenti GaN. Ad esempio, i dispositivi da 650/700 V di Innoscience in package DFN DFN 8×8 o 5×6 package sono compatibili pin-to-pin con i componenti di altri fornitori con coefficienti e specifiche simili.
In conclusione, non esistono più ostacoli all’adozione del GaN nel mercato di massa dei semiconduttori di potenza. I dubbi su disponibilità in grandi volumi, prezzo, compatibilità fra i produttori, affidabilità alle alte e basse tensioni ed effetti valanga appartengono ormai al passato. In breve, il futuro appartiene al GaN.
Dr. Denis Marcon General Manager, Innoscience Europe